亥姆赫茲線圈實驗誤差來源分析

　　單線圈軸線上磁感應強度分佈的理論值和實驗值的誤差產生的原因：

　　1、線圈可能歪斜，並不在豎直平面；

　　2、對環心位置估計有誤差；

　　3、儀器原因。

　　亥姆霍茲線圈軸線上的磁場分佈誤差產生的原因是：

　　1、 其他磁場對線圈磁場強度測量的干擾；

　　2、 亥姆霍茲線圈的兩個線圈的圓心不在同一水平線上，導致實驗誤差；

　　3、 實驗儀器本身具有一定的誤差。

　　1、溫度校正中引入的誤差:在進行溫度校正的過程中，由於測量儀器的精確度有限，而且露出體系外水銀的平均溫度和輔助溫度計測得的溫度不可能完全一致，所以可能導致測量過程中的誤差；

　　2、實驗條件改變:在測量過程中，雖然採用恆溫槽使得阿貝折射儀的稜鏡處於恆溫狀態，但其他儀器的實驗條件很可能出現改變，這其中包括環境溫度和氣壓的改變導致沸點儀所處環境的改變；

　　3、測量體系的改變:在實驗資料的處理過程中認為測量體系的組成沒有變化，但是在實際情況下，很可能由於操作原因改變測量體系的組成，在從沸點儀取樣的過程中，以及進行折射率測量時，體系會有微量蒸發，從而使得體系的組成發生變化，即所測得的組成與液相和氣相的實際組成不完全一致；

　　4、測定儀器的誤差:測量過程中使用了刻度尺、阿貝折射儀、溫度計等儀器，由於系統誤差，測得資料與實際可能有所差異，導致測量結果的誤差。

　　示波器系統誤差的性質及其產生的原因，一般可分為兩類：

　　1、系統誤差。在規定的測試條件下對同一量進行多次測量時，如果誤差的數值保持恆定或按某種確定規律變化，則稱這種誤差為系統誤差。例如，電錶零點不準，溫度、溼度、電源、電壓等變化造成的誤差，便屬於系統誤差。

　　2、偶然誤差，又稱隨機誤差。在規定的測量條件下對同一量進行多次測量時，如果誤差的數值發生不規則的變化，則稱這種誤差為偶然誤差。例如，熱騷動、外界干擾、測量人員的感覺器官等。